Atomic Force Mikroskop
-
atomkraft afm mikroskop
Märke: NANBEI
Modell: AFM
Atomic Force Microscope (AFM), ett analysinstrument som kan användas för att studera ytstrukturen hos fasta material, inklusive isolatorer.Den studerar ytstrukturen och egenskaperna hos ett ämne genom att detektera den extremt svaga interatomära interaktionen mellan ytan på provet som ska testas och ett mikrokraftskänsligt element.
